產(chǎn)品信息：在實(shí)際得科研生產(chǎn)中，由于樣品/晶圓（Wafer）得尺寸越來(lái)越大，用于測(cè)..
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芯片失效分析（FA測(cè)試）芯片失效分析測(cè)試項(xiàng)目：光學(xué)檢查(VI/OM)；掃描電鏡檢..廣東 · 廣州 · 天河區(qū) -
超大規(guī)模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測(cè)試在半導(dǎo)體集成電路國(guó)產(chǎn)化、小型化、高集成、高性能要求..廣東 · 廣州 · 天河區(qū)
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ThermoTest TS-760是精密的溫度沖擊系統(tǒng)，以速度、精度和可靠性作..四川 · 成都 -
失效分析是建立在機(jī)械學(xué)、材料學(xué)、固體力學(xué)和斷口學(xué)基礎(chǔ)上的一門(mén)交叉學(xué)科，其主要目..廣東 · 廣州 · 天河區(qū) -
物理、力學(xué)性能測(cè)試主要針對(duì)金屬材料的物理特性（如材料的抗拉強(qiáng)度、延伸率、硬度、..廣東 · 廣州 · 天河區(qū) -
蘇州天標(biāo)檢測(cè)技術(shù)有限公司（注冊(cè)商標(biāo)“TBK”）成立于2011年，擁有..江蘇 · 蘇州 · 虎丘區(qū) -
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