串聯(lián)四極桿 ICP-MS 是一種用于元素分析的串聯(lián)質(zhì)譜儀 (MS/MS)。ICP-MS/MS 在碰撞/反應(yīng)池 (CRC) 前增加了一個額外的四極桿質(zhì)量過濾器 (Q1)，因此質(zhì)譜干擾問題可以通過反應(yīng)池氣體和氦氣 (He) 碰撞模式得到解決。為了在單位 (1 u) 質(zhì)量分辨率下實現(xiàn)高離子傳輸效率，ICP-MS/MS 的兩個四極桿都必須在高真空條件下運(yùn)行。ICP-MS/MS 尤其適用于那些采用單四極桿 ICP-MS 無法實現(xiàn)成功分析的**應(yīng)用。

串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀的用途

ICP-MS/MS 適用于那些采用單四極桿 ICP-MS 無法實現(xiàn)理想分析的高要求應(yīng)用。這些應(yīng)用可能需要極低的檢測限，例如，檢測半導(dǎo)體制程化學(xué)品和高純度材料中的超痕量污染物或檢測極小的納米顆粒。ICP-MS/MS 可以利用 MS/MS 消除同量異位素干擾、雙電荷離子干擾、相鄰質(zhì)量數(shù)重疊干擾以及高強(qiáng)度的多原子干擾。這種能力使它可以分析低濃度的非常規(guī)分析物，如 Si、P、S、Cl，甚至是 F。

串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 的應(yīng)用

高靈敏度和 MS/MS 模式 — 對半導(dǎo)體干擾實現(xiàn)出色的控制

ICP-MS/MS 為半導(dǎo)體和材料行業(yè)提供了更低的檢測限和更出色的干擾控制。**制造商使用 8900 確保其高純度工藝化學(xué)品和材料的質(zhì)量。

超高靈敏度、超低背景以及極短的 0.1 ms 駐留時間可確保準(zhǔn)確檢測出**小納米顆粒 (NP)。MS/MS 可控制 Si 和 Ti 的干擾，從而實現(xiàn) SiO₂ 和 TiO₂ NP 的低濃度分析。

反應(yīng)氣體模式可分離地質(zhì)年代學(xué)及核化學(xué)中的同質(zhì)異位素重疊

MS/MS 控制碰撞/反應(yīng)池中的化學(xué)反應(yīng)，使研究人員能夠分離阻礙地球化學(xué)測量的同質(zhì)異位素重疊。8900 可分離 ²⁰⁴Hg 與 ²⁰⁴Pb、⁸⁷Rb 與 ⁸⁷Sr 以及 ¹⁷⁶Lu 與 ¹⁷⁶Hf 等重疊，實現(xiàn)準(zhǔn)確的地質(zhì)年代學(xué)同位素比值分析。
MS/MS 還可分離用于核研究和核退役測量的放射性核素的直接重疊，提高豐度靈敏度，分離峰拖尾重疊（如 ²³⁸U 與 ²³⁷Np）。

提供輕松應(yīng)對生命科學(xué)新應(yīng)用的性能和靈活性

安捷倫 ICP-MS/MS 儀器可以分離先前難以分析的元素（如 Cl、P 和 S）的光譜重疊，徹底顛覆了生命科學(xué)研究。使研究人員能夠?qū)Φ鞍踪|(zhì)和肽直接進(jìn)行基于 S 和 P 雜元素的單獨(dú)化合物定量分析。