詳細介紹
橋式測量機CONTURA G2
一機多用的掃描平臺
物**的CONTURA G2®非常適合中小型生產企業，其掃描技術可以高密度處理數據。利用VAST®的掃描技術使工件的形狀檢驗可以 快速度獲得高品質測量結果。可即時發現加工中的變化，確保產品質量并將廢品率降至 低限度。
重要特征
堅固耐用的機械設計
X軸和Z軸均采用工業陶瓷作為導軌材料，具有良好的剛性，并有效防止溫度波動及濕度和其他環境條件的影響
適合車間的玻璃陶瓷光柵尺受粉塵和其他雜質的影響小
三軸均采用四面環抱氣浮軸承，可在高速運行和加速的條件下保持剛性和穩定性
機器技術
值得**的控制技術
的計算機輔助誤差技術（CAA），用于計算機輔助動態修正，**測量結果準確可靠
C99控制柜，來自卡爾·蔡司的控制技術，實現機器和探頭的 佳匹配
模塊化設計確保維保便捷并全面滿足未來升級需求
用戶友好型標準控制面板，更方便、 地控制所有軸向運動；無級變速旋鈕，隨時調整測量速度
探頭
CONTURA G2 direkt：采用蔡司掃描技術的入門級機型，配備Vast®XXT掃描探頭，可以升級為G2 RDS
CONTURA G2 RDS：配備蔡司旋轉測座RDS，結合接觸式掃描探頭Vast®XXT或光學探頭Viscan，可自由、快速旋轉，掃描范圍達到任意角度位置
CONTURA G2 aktiv：配備蔡司Vast®XT主動掃描探頭，可打點和掃描， 測量深孔元素，對尺寸、形狀及位置測量可靠性高
CONTURA G2 navigator：配備蔡司Vast XT gold主動掃描探頭，提供 大精度的高速掃描
選項
設備的探針更換架具有非常高的更換重復精度，無須再次校準
采用HTG（寬溫帶）機型，可以在較寬的溫度范圍內達到相同的測量精度
采用U-STONE技術，將測量有效高度提升200mm，擴大Z軸測量空間
軟件
蔡司用戶友好型功能軟件庫
基本軟件包和選項產品滿足所有的實際應用需求
優化的面向對象編程模式
全面模擬
支持不同的探頭
圖形化日志和統計
尺寸
測量范圍 X× Y× Z[mm]
CONTURA G2 700 × (700~1000) × 600
1000 × (1200~1600) × 600
(含U-Stone)
長度測量誤差(μm): 1.5 + L/333* 起
* - L = 測量長度以mm為單位
- 根據設備規格、所配探頭及使用環境，精度有所不同
傳感系統
一機多用的掃描平臺
物**的CONTURA G2®非常適合中小型生產企業，其掃描技術可以高密度處理數據。利用VAST®的掃描技術使工件的形狀檢驗可以 快速度獲得高品質測量結果。可即時發現加工中的變化，確保產品質量并將廢品率降至 低限度。
重要特征
堅固耐用的機械設計
X軸和Z軸均采用工業陶瓷作為導軌材料，具有良好的剛性，并有效防止溫度波動及濕度和其他環境條件的影響
適合車間的玻璃陶瓷光柵尺受粉塵和其他雜質的影響小
三軸均采用四面環抱氣浮軸承，可在高速運行和加速的條件下保持剛性和穩定性
機器技術
值得**的控制技術
的計算機輔助誤差技術（CAA），用于計算機輔助動態修正，**測量結果準確可靠
C99控制柜，來自卡爾·蔡司的控制技術，實現機器和探頭的 佳匹配
模塊化設計確保維保便捷并全面滿足未來升級需求
用戶友好型標準控制面板，更方便、 地控制所有軸向運動；無級變速旋鈕，隨時調整測量速度
探頭
CONTURA G2 direkt：采用蔡司掃描技術的入門級機型，配備Vast®XXT掃描探頭，可以升級為G2 RDS
CONTURA G2 RDS：配備蔡司旋轉測座RDS，結合接觸式掃描探頭Vast®XXT或光學探頭Viscan，可自由、快速旋轉，掃描范圍達到任意角度位置
CONTURA G2 aktiv：配備蔡司Vast®XT主動掃描探頭，可打點和掃描， 測量深孔元素，對尺寸、形狀及位置測量可靠性高
CONTURA G2 navigator：配備蔡司Vast XT gold主動掃描探頭，提供 大精度的高速掃描
選項
設備的探針更換架具有非常高的更換重復精度，無須再次校準
采用HTG（寬溫帶）機型，可以在較寬的溫度范圍內達到相同的測量精度
采用U-STONE技術，將測量有效高度提升200mm，擴大Z軸測量空間
軟件
蔡司用戶友好型功能軟件庫
基本軟件包和選項產品滿足所有的實際應用需求
優化的面向對象編程模式
全面模擬
支持不同的探頭
圖形化日志和統計
尺寸
測量范圍 X× Y× Z[mm]
CONTURA G2 700 × (700~1000) × 600
1000 × (1200~1600) × 600
(含U-Stone)
長度測量誤差(μm): 1.5 + L/333* 起
* - L = 測量長度以mm為單位
- 根據設備規格、所配探頭及使用環境，精度有所不同
傳感系統
聯系方式
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