蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡ZEISS Sigma系列產(chǎn)品

用于高品質(zhì)成像與**分析的蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡

靈活的探測，4步工作流程，**的分析性能

將**的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。

Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有**的背散射幾何探測器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。

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靈活的檢測器選項(xiàng)，獲取清晰圖像

使用新穎的ETSE和Inlens探測器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。

使用VPSE或C2D檢測器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。

使用aSTEM檢測器生成高分辨率透射圖像。

使用HDBSD或YAG檢測器分析成分。

用戶友好,操作簡單