一、X射線概述

放射學(xué)作為五種常規(guī)檢測(cè)方法之一，在工業(yè)上得到了廣泛的應(yīng)用。目前，根據(jù)ASTM的定義，射線檢測(cè)可分為四類：照相檢測(cè)、實(shí)時(shí)成像檢測(cè)、斷層掃描檢測(cè)等射線檢測(cè)技術(shù)。

X光和自然光之間沒(méi)有本質(zhì)的區(qū)別。它們都是電磁波，但X射線量子的能量遠(yuǎn)大于可見(jiàn)光。它能穿透可見(jiàn)光不能穿透的物體，同時(shí)與物質(zhì)有復(fù)雜的物理化學(xué)相互作用。它能電離原子，使某些物質(zhì)發(fā)出熒光，也能使某些物質(zhì)產(chǎn)生光化學(xué)反應(yīng)。如果工件局部有缺陷，會(huì)改變物體對(duì)光線的衰減，引起透射光線強(qiáng)度的變化。這樣，利用一定的檢測(cè)方法，如膜感度，來(lái)檢測(cè)傳輸線的強(qiáng)度，就可以判斷工件是否有缺陷，以及缺陷的位置和大小。只要缺陷在傳輸“497”中有一定的尺寸，它的衰減系數(shù)就不同于物體的線性衰減系數(shù)，并且散射比控制在一定范圍內(nèi)，就可以得到缺陷引起的對(duì)比度并找到缺陷。

二、X射線探傷原理

（1）X射線的特征X射線是非常短波長(zhǎng)的電磁波并且是光子。

x射線有下列特點(diǎn)：

1。穿透X射線可以穿透普通可見(jiàn)光無(wú)法穿透的物質(zhì)。穿透能力與X射線的波長(zhǎng)、穿透材料的密度和厚度有關(guān)。X射線波長(zhǎng)越短，穿透力越大；密度越低，厚度越薄，X射線穿透越容易。

2電離當(dāng)X射線或其他射線（如伽馬射線）被物質(zhì)吸收時(shí)，組成物質(zhì)的分子被分解成正離子和負(fù)離子，這被稱為電離。離子的數(shù)量與物質(zhì)吸收的X射線的量成比例。可以通過(guò)空氣或其他物質(zhì)測(cè)量電離程度來(lái)計(jì)算X射線的量。檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)零件的缺陷檢測(cè)。 X射線具有其他效果，例如敏化和熒光。

（2）影像形成原理

X射線圖像形成的基本原理是由于X射線的特性以及部件的密度和厚度的差異。

三、應(yīng)用類型

射線檢測(cè)技術(shù)可分為以下四類應(yīng)用。

（1）質(zhì)量檢測(cè)

可用于鑄造、焊接工藝缺陷檢測(cè)。

（2）測(cè)量厚度

可用于在線，實(shí)時(shí)，非接觸式厚度測(cè)量。

（3）物品檢查

可用于機(jī)場(chǎng)、車站、海關(guān)查驗(yàn)、結(jié)構(gòu)尺寸的確定。

（4）動(dòng)態(tài)研究

它可用于研究動(dòng)態(tài)過(guò)程，如彈道、爆炸、核技術(shù)和鑄造技術(shù)。

四、X射線檢測(cè)優(yōu)勢(shì)

它不會(huì)損壞被檢查物體，方便實(shí)用。它可以實(shí)現(xiàn)其他檢測(cè)手段無(wú)法實(shí)現(xiàn)的獨(dú)特檢測(cè)效果。使用面部寬度，薄膜存檔很長(zhǎng)時(shí)間以便于事故分析，并且可以直觀地顯示缺陷圖像。

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